Обратите внимание, что вы покупаете букинистическую книгу в магазине "Библиофан".
Мы прилагаем максимальные усилия, чтобы предоставить актуальное состояние каждой книги на фотографиях. Таким образом, вы получите именно тот экземпляр, который видите на фото.
Описание: В книге рассматриваются основные аспекты надежности полупроводниковых интегральных схем (ИС) и процесс производства и эксплуатации ИС. Особое внимание уделяется методам прогнозирования и нормирования надежности ИС. Рассмотрены вопросы надежности при воздействии внешних факторов, а также методы контроля и оценки надежности ИС. Книга предназначена для инженеров, техников, работающих в области производства и эксплуатации ИС, а также для студентов соответствующих специальностей.